TY  - JOUR
AU  - Salcedo, Javier
AU  - Liou, Juin
AU  - Afridi, Muhammad
AU  - Hefner, Allen
C2  - Microelectronics Reliability
DA  - 2006-08-01
LA  - en
M1  - 46
PB  - Microelectronics Reliability
PY  - 2006
TI  - On-Chip Electrostatic Discharge Protection for CMOS Gas Sensor Systems-on-a-Chip (SoC)
ER  -