TY  - JOUR
AU  - Levine, Zachary
AU  - Kalukin, A
AU  - Kuhn, M
AU  - Frigo, S
AU  - McNulty, I
AU  - Retsch, C
AU  - Wang, Ying-Ju
AU  - Arp, Uwe
AU  - Lucatorto, Thomas
AU  - Ravel, B
AU  - Tarrio, Charles
C2  - Journal of Applied Physics
DA  - 2000-01-01
LA  - en
M1  - 87
PB  - Journal of Applied Physics
PY  - 2000
TI  - Microtomography of an integrated circuit interconnect with an electromigration void
ER  -