TY  - JOUR
AU  - Stalnaker, Jason
AU  - Diddams, Scott
AU  - Fortier, Tara
AU  - Kim, K
AU  - Hollberg, Leo
AU  - Bergquist, James
AU  - Itano, Wayne
AU  - Delaney, Marie
AU  - Lorini, Luca
AU  - Oskay, Windell
AU  - Heavner, Thomas
AU  - Jefferts, Steven
AU  - Levi, Filippo
AU  - Parker, Thomas
AU  - Shirley, Jon
C2  - Applied Physics B
DA  - 2007-10-01
LA  - en
PB  - Applied Physics B
PY  - 2007
TI  - Optical-to-microwave frequency comparison with fractional uncertainty of 10<sup>-15</sup>
UR  - https://tsapps.nist.gov/publication/get_pdf.cfm?pub_id=50555
ER  -