TY  - JOUR
AU  - Obeng, Yaw
AU  - Okoro, Chukwudi
AU  - Ahn, Jungjoon
AU  - You, Lin
AU  - Kopanski, Joseph
C2  - ECS Transactions
DA  - 2015-10-11
LA  - en
M1  - 69
PB  - ECS Transactions
PY  - 2015
TI  - Dielectric Spectroscopic Detection of Early Failures in 3-D Integrated Circuits
ER  -