TY  - JOUR
AU  - Nminibapiel, David
AU  - Veksler, Dmitry
AU  - Shrestha, Pragya
AU  - Kim, Jihong
AU  - Campbell, Jason
AU  - Ryan, Jason
AU  - Baumgart, Helmut
AU  - Cheung, Kin
C2  - Electron Device Letters
DA  - 2017-01-23
LA  - en
M1  - 38
PB  - Electron Device Letters
PY  - 2017
TI  - Characteristics of Resistive Memory Read Fluctuations in Endurance Cycling
ER  -