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AU  - Vladar, Andras
AU  - Keery, William
AU  - Bishop, Michael
AU  - Bunday, Benjamin
AU  - Allgair, John
C2  - Proceedings of SPIE, Monterey, CA
DA  - 2010-08-19
LA  - en
M1  - 7729
PB  - Proceedings of SPIE, Monterey, CA
PY  - 2010
TI  - NEW Scanning Electron Microscope Magnification Calibration Reference Material (RM) 8820
ER  -