TY  - HEAR
AU  - Yu, Liangchun
AU  - Cheung, Kin
AU  - Dunne, Greg
AU  - Matocha, Kevin
AU  - Suehle, John
AU  - Sheng, Kuang
DA  - 2009-10-14
LA  - en
PY  - 2009
TI  - Gate Oxide Long-Term Reliability of 4H-SiC MOS Devices
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