TY  - JOUR
AU  - Sayan, Safak
AU  - Nguyen, Nhan
AU  - Ehrstein, James
AU  - Emge, Tom
AU  - Garfunkel, Eric
AU  - Croft, Mark
AU  - Zhao, X
AU  - Vanderbilt, David
AU  - Levin, Ira
AU  - Gusev, Evgeni
AU  - Kim, Hyunjung
C2  - Applied Physics Letters
DA  - 2005-11-17
LA  - en
M1  - 86
PB  - Applied Physics Letters
PY  - 2005
TI  - Structural, Electronic, and Dielectric Properties of Ultrathin Zirconia Films on Silicon
UR  - https://tsapps.nist.gov/publication/get_pdf.cfm?pub_id=32146
ER  -