TY  - JOUR
AU  - Diagne, Ibrahima
AU  - White, Juan
AU  - Ndoye, Mandoye
AU  - Bates, Clayton
AU  - Thurber, W.
C2  - Elsevier
DA  - 2005-02-24 00:02:00
LA  - en
M1  - 59
PB  - Elsevier
PY  - 2005
TI  - Chemical Etch Studies of Ag/n-Si Metal-Semiconductor Composite Films
ER  -