TY  - CONF
AU  - Han, Jin-Ping
AU  - Vogel, Eric
AU  - Gusev, Evgeni
AU  - D'Emic, C.
AU  - Richter, Curt
AU  - Heh, Da-Wei
AU  - Suehle, John
C2  - Tech. Dig., VLSI Technology, Kyoto, 1, JA
DA  - 2003-06-01 00:06:00
LA  - en
PB  - Tech. Dig., VLSI Technology, Kyoto, 1, JA
PY  - 2003
TI  - Energy Distribution of Interface Traps in High-K Gated MOSFETs
ER  -