TY  - JOUR
AU  - Chen, Y
AU  - Suehle, John
AU  - Shen, Chien-Chung
AU  - Bernstein, J
AU  - Messick, C.
AU  - Chaparala, P
C2  - IEEE Electron Device Letters
DA  - 1998-07-01 00:07:00
LA  - en
M1  - 19
PB  - IEEE Electron Device Letters
PY  - 1998
TI  - A New Technique for Determining Long-Term TDDB Acceleration Parameters of Thin Gate Oxides
ER  -