TY  - JOUR
AU  - Richter, M.
AU  - Woicik, J
AU  - Nogami, J.
AU  - Pianetta, P
AU  - Baski, A.
AU  - Kendelewicz, T
AU  - Bouldin, Charles
AU  - Spicer, W
AU  - Quate, C.
AU  - Lindau, I.
C2  - Physical Review Letters
DA  - 1990-12-31 00:12:00
LA  - en
M1  - 65
PB  - Physical Review Letters
PY  - 1990
TI  - Surface Extended-X-Ray-Absorption Fine Structure and Scanning Tunneling Microscopy of Si(001) 2x1-Sb
ER  -