TY - JOUR AU - Jin, N AU - Rice, A AU - Berger, P AU - Thompson, P AU - Rivas, C AU - Lake, R AU - Sudirgo, S AU - Kempisty, J AU - Curanovic, B AU - Rommel, S AU - Hirschman, K AU - Kurinec, S AU - Chi, P AU - Simons, David AU - Chung, S.J. C2 - IEEE Transactions on Electron Devices DA - 2003-01-01 00:01:00 LA - en PB - IEEE Transactions on Electron Devices PY - 2003 TI - Diffusion Barrier Cladding in Si/SiGe Resonant Interband Tunneling Diodes and Their Patterned Growth on PMOS Source/Drain Regions ER -