TY  - JOUR
AU  - Josell, Daniel
AU  - Burkhard, C
AU  - Kelley, David
AU  - Cheng, Yi-Wen
AU  - Keller, R
AU  - Bonevich, John
AU  - Li, Y
AU  - Baker, B
AU  - Witt, C
AU  - Moffat, Thomas
C2  - Journal of Applied Physics
DA  - 2004-07-01 00:07:00
LA  - en
M1  - 96
PB  - Journal of Applied Physics
PY  - 2004
TI  - Electrical Properties of Superfilled Sub-Micrometer Silver Metallizations
UR  - https://tsapps.nist.gov/publication/get_pdf.cfm?pub_id=853319
ER  -