TY - JOUR AU - Seu, K AU - Huang, H AU - Lesoine, J AU - Showman, H AU - Jr., William Egelhoff AU - Gan, L AU - Reilly, A C2 - Journal of Applied Physics DA - 2003-05-01 00:05:00 LA - en M1 - 93 PB - Journal of Applied Physics PY - 2003 TI - Co Layer Thickness Dependence of Exchange Biasing For IrMn/Co and FeMn/Co ER -