TY  - JOUR
AU  - Smee, S.
AU  - Gaitan, Michael
AU  - Novotny, Donald
AU  - Joshi, Yogendra
AU  - Blackburn, David
C2  - IEEE Electron Device Letters
DA  - 2000-01-01 00:01:00
LA  - en
M1  - 21
PB  - IEEE Electron Device Letters
PY  - 2000
TI  - IC Test Structures for Multi-Layer Interconnect Stress Determination
ER  -