TY  - JOUR
AU  - Jarrett, Dean
AU  - Elmquist, Randolph
AU  - Zhang, Nien
AU  - Tonina, Alejandra
AU  - Porfiri, M
AU  - Fernandes, Janice
AU  - Schechter, H
AU  - Izquierdo, Daniel
AU  - Faverio, C
AU  - Slomovitz, Daniel
AU  - Inglis, Dave
AU  - Wendler, Kai
AU  - Hernandez-Marquez, Felipe
AU  - Rodriguez, B
C2  - IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
DA  - 2009-01-01
LA  - en
PB  - IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
PY  - 2009
TI  - SIM Comparison of DC Resistance Standards at 1 {Ω}, 1 M{Ω}, and 1 G{Ω}
UR  - https://tsapps.nist.gov/publication/get_pdf.cfm?pub_id=33141
ER  -