TY  - JOUR
AU  - Wang, Hsin
AU  - Bai, Shengqiang
AU  - Chen, Lidong
AU  - Cuenat, Alexander
AU  - Joshi, Giri
AU  - Kleinke, Holger
AU  - K?nig, Jan
AU  - Lee, Hee Woong
AU  - Martin, Joshua B.
AU  - Oh, Min-Wook
AU  - Porter, Wallace
AU  - Ren, Zhifeng
AU  - Salvador, James
AU  - Sharp, Jeff
AU  - Taylor, Patrick
AU  - Thompson, Alan
AU  - Tseng, Y.
C2  - Journal of Electronic Materials
DA  - 2015-09-03 04:09:00
DO  - https://doi.org/10.1007/s11664-015-4006-z
LA  - en
PB  - Journal of Electronic Materials
PY  - 2015
TI  - International Round-Robin Study on Thermoelectric Transport Properties of n-type Half-Heusler from 300 K to 773 K
ER  -